Details
ISBN/EAN: 978-3-406-70789-6
Einband: kartoniertes Buch
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Auflage:
1. Auflage 2017
1. Auflage 2017
Erschienen am:
23.01.2017
23.01.2017
Sprache:
Deutsch
Deutsch
Umfang:
223 S.
223 S.
Format (T/L/B):
1.4 x 29.8 x 21.2 cm
1.4 x 29.8 x 21.2 cm
Hersteller:
Verlag C.H.Beck GmbH & Co. KG
produktsicherheit@beck.de
Wilhelmstraße 9
DE 80801 München
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Zielorientierte Methodiken zum Bestehen der Europäischen Eignungsprüfung (EEP)
Patentrechtliche Grundlagen für Teile A, B,C, D, Dt/engl
99,00 €
inkl. MwSt.
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Beschreibung
Zum WerkFr alle Teilnehmer der Europischen Eignungsprfung (EEP) bietet das neue Werk zielorientierte Methodiken zum Bestehen der EEP in den Teilen A, B, C und D. Alle prfungsrelevanten Themen sind in deutscher und englischer Sprache synoptisch dargestellt. Besonderes Gewicht wird auf inhaltlich gut strukturierte Hilfestellungen gelegt.Besonders hilfreich: Immer dort, wo es fr die Methodiken ntig ist, sind auch patentrechtliche Grundlagen erlutert. Dabei wird jeweils auf Gesetze, Rechtsprechung und Prfungsrichtlinien verwiesen.Vorteile auf einen Blick- Schritt-fr-Schritt Vorgehensweisen- Zeitangaben pro Bearbeitungsschritt- Details der Punktevergabe- Prfungsschemata fr patentrechtliche Fragen- Formulierungsvorschlge und ganze Textpassagen- Tabellen als Bearbeitungshilfen- praktische Tipps fr die PrfungZielgruppe:Fr Teilnehmer der Europischen Eignungsprfung.